矢内 浩文・傍島奈々子・内藤 裕子
玉川大学 工学部 情報通信工学科
〒194 東京都町田市玉川学園 6-1-1
E-mail: yanai@eng.tamagawa.ac.jp
紙の上に小さな円をランダムに配置したパターンを記憶する．それらは，いくつかのプロトタイプをもとに，それぞれ数個の円の位置をランダムに移動して作ったものである．プロトタイプとの主観的類似度と移動する円の数の関係の実験と，再認の確信度と移動する円の数の関係の実験を行なったところ，再認の確信度と主観的類似度には直線的な関係がある，また，主観的類似度が大きくなっても再認確信度はそれほど大きくはならない（直線の傾きは小さい），という結果が出た．
キーワード：記憶，パターン，再認，確信度